分析測(cè)試共享中心成功舉辦了一場(chǎng)主題為“表面分析技術(shù)前沿與應(yīng)用”的交流報(bào)告會(huì)。本次會(huì)議旨在促進(jìn)表面分析技術(shù)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)交流與合作,提升相關(guān)領(lǐng)域的研究水平與技術(shù)應(yīng)用能力,吸引了來(lái)自高校、科研院所及企業(yè)的眾多專家學(xué)者和技術(shù)人員參與。
報(bào)告會(huì)現(xiàn)場(chǎng),多位在表面分析技術(shù)領(lǐng)域具有深厚造詣的專家?guī)?lái)了精彩的專題報(bào)告。報(bào)告內(nèi)容涵蓋了X射線光電子能譜(XPS)、掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)、二次離子質(zhì)譜(SIMS)等多種主流表面分析技術(shù)的原理、最新進(jìn)展、儀器操作技巧及數(shù)據(jù)分析方法。專家們不僅分享了各自團(tuán)隊(duì)在材料科學(xué)、化學(xué)、物理、生物醫(yī)學(xué)及環(huán)境科學(xué)等交叉學(xué)科中的創(chuàng)新研究成果和成功應(yīng)用案例,還就技術(shù)發(fā)展面臨的挑戰(zhàn)、未來(lái)趨勢(shì)以及標(biāo)準(zhǔn)化、自動(dòng)化等議題進(jìn)行了深入探討。
在技術(shù)交流環(huán)節(jié),與會(huì)者積極提問(wèn),與報(bào)告專家就實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)、樣品制備、譜圖解析、定量分析中的疑難問(wèn)題展開(kāi)了熱烈而富有成效的討論。許多參會(huì)者表示,這種面對(duì)面的深入交流極大地解決了他們?cè)谌粘?蒲信c測(cè)試工作中遇到的實(shí)際困惑,對(duì)理解技術(shù)細(xì)節(jié)、開(kāi)拓研究思路具有重要價(jià)值。分析測(cè)試共享中心作為大型儀器設(shè)備開(kāi)放共享和技術(shù)服務(wù)的平臺(tái),其組織的此類專業(yè)交流活動(dòng),有效加強(qiáng)了用戶之間的技術(shù)聯(lián)系,促進(jìn)了資源共享和知識(shí)傳播。
此次報(bào)告會(huì)的成功召開(kāi),不僅為表面分析技術(shù)領(lǐng)域的科研工作者和技術(shù)人員提供了一個(gè)高水平的學(xué)習(xí)與交流平臺(tái),也進(jìn)一步彰顯了分析測(cè)試共享中心在推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新、服務(wù)科研社群方面的核心作用。中心負(fù)責(zé)人表示,未來(lái)將繼續(xù)定期舉辦系列技術(shù)交流活動(dòng),聚焦不同分析測(cè)試領(lǐng)域,構(gòu)建更加活躍、開(kāi)放的學(xué)術(shù)共同體,為我國(guó)科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)升級(jí)提供更堅(jiān)實(shí)的技術(shù)支撐。
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更新時(shí)間:2026-01-15 10:06:53